GXF-215B 数显式硅酸根分析仪
测量范围 0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89
GXF-215B 数显式硅酸根分析仪
测量范围 0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89
GXF-215B 数显式硅酸根分析仪
测量范围 0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89
上一篇 : DGF2006B 电热鼓风干燥箱 京仪仪器
下一篇 : JY-GQM-4滚筒式球磨机(四工位)京仪仪器