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JY-FZ-2006A 半导体粉末电阻率测试仪

更新时间:2023-10-20

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厂商性质:其他

生产地址:

简要描述:
JY-FZ-2006A 半导体粉末电阻率测试仪
1.测量范围:电阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小电阻分辨率:0.1mΩ。
3.测量:0.3%读数±2字。
品牌其他品牌

JY-FZ-2006A 半导体粉末电阻率测试仪

1.测量范围:电阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小电阻分辨率:0.1mΩ。
3.测量:0.3%读数±2字。
4.数字电压表:3档量程(20mV200mV2V)。
5.直流恒流源:5档量程(10μA100μA1mA10mA100mA)。
6.显示:3½位数字显示0--1999,自动显示小数点、单位、极性和过载。
7. 粉末测量:
①.试样粒度:标准筛网40目以上直至纳米材料。
②.试样容器:内腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜(可选件)。
③.试样高度:6--20㎜±0.1㎜;测量±0.1㎜。
④.取样压力:8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。压力量程0--200㎏可调。
8.电源:交流220V±10%,50HZ或60HZ,功率﹤50W。9.电气箱外形尺寸:440×320×120㎜。


FZ-2006A 半导体粉末电阻率测试仪

1.测量范围:电阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小电阻分辨率:0.1mΩ。
3.测量:0.3%读数±2字。
4.数字电压表:3档量程(20mV200mV2V)。
5.直流恒流源:5档量程(10μA100μA1mA10mA100mA)。
6.显示:3½位数字显示0--1999,自动显示小数点、单位、极性和过载。
7. 粉末测量:
①.试样粒度:标准筛网40目以上直至纳米材料。
②.试样容器:内腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜(可选件)。
③.试样高度:6--20㎜±0.1㎜;测量±0.1㎜。
④.取样压力:8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。压力量程0--200㎏可调。
8.电源:交流220V±10%,50HZ或60HZ,功率﹤50W。9.电气箱外形尺寸:440×320×120㎜。




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